介電常數及介質(zhì)損耗測試儀 型號:STD-C

介電常數及介質(zhì)損耗測試儀 型號:STD-C  

介電常數及介質(zhì)損耗測試儀STD-C，可直接顯示介電常數（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）.檢測固體材料。
STD-C介電常數測試儀
STD-C高頻絕緣材料介電常數介質(zhì)損耗測試系統由測試裝置（夾具）、高頻Q表、數據采集和tanδ自動(dòng)測量控件（裝入STD-C的軟件模塊)、及電感器組成。依據國標GB/T 5594.4-2015 電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法　第4部分：介電常數和介質(zhì)損耗角正切值測試方法、GB/T 1693-2007 硫化橡膠介電常數和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法.GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會(huì )IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動(dòng)測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過(guò)公式計算得到。使用STD-C數字Q表具有自動(dòng)計算介電常數（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。
STD-C介電常數/介質(zhì)損耗測試系統系統組成：

介電常數及介質(zhì)損耗測試儀 型號:STD-C  

主機：高頻Q表
功能名稱(chēng)：STD-C
信號源范圍DDS數字合成信號100KHZ-160MHz
信號源頻率覆蓋比16000:1
信號源頻率精度 6位有效數3×10-5 ±1個(gè)字  
采樣精度12BIT
高精度的AD采樣，保證了Q值的穩定性，以及低介質(zhì)損耗材料測試時(shí)候的穩定性
Q測量范圍1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程
Q分辨率4位有效數,分辨率0.1
Q測量工作誤差<5%
電感測量范圍 4位有效數,分辨率0.1nH1nH-140mH分辨率0.1nH
電感測量誤差<3%
調諧電容主電容17-240pF
(一體鍍銀成型,精度高)
電容自動(dòng)搜索是(帶步進(jìn)馬達)
電容直接測量范圍1pF～25nF
調諧電容誤差
分辨率±1 pF或<1%
0.1pF
諧振點(diǎn)搜索自動(dòng)掃描
Q合格預置范圍 5-1000聲光提示
Q量程切換自動(dòng)/手動(dòng)
LCD顯示參數F，L，C，Q，Lt，Ct, tn, Σr
自身殘余電感和測試引線(xiàn)電感的
自動(dòng)扣除功能()有
大電容值直接測量顯示功能()測量值可達25nF
介質(zhì)損耗系數精度 萬(wàn)分之一
介電常數精度 千分之一
材料測試厚度0.1mm-10mm
介電常數LCD直接顯示
介質(zhì)損耗系數LCD直接顯示
介電常數測試頻率范圍100KHz-100MHz
介電常數εr和介質(zhì)損耗因數tanδ測試裝置：
樣品尺寸：固體：材料測量直徑 Φ38mm ；厚度可調 <15mm ；
(極片可以定制)
選配液體杯，可做液體材料的檢測。
電感組:
電感No電感量準確度%Q值≥分布電容約略值諧振頻率范圍 MHz適合介電常數測試頻率
10.1μH±0.05μH2005pF31~10350MHz
20.5μH±0.05μH2005pF14.8~46.615MHz
32.5μH±5%2005pF6.8~21.410MHz
410μH±5%2006pF3.4~10.555MHz
550μH±5%2006pF1.5~4.551.5MHz
6100μH±5%2006pF1.06~3.201MHz
71mH±5%1508pF0.34~1.020.5MHz
85mH±5%1308pF0.148~0.390.25MHz
910mH±5%908pF0.107~0.320.1MHz
1014nH±5%1005pF100MHz100MHz
配置：含STD-C測試主機1臺，樣品夾具1套，電感1組（9個(gè)），如需選配液體杯，費用另計。