電路板故障檢測儀 型號：ICT-4040UXP-II

電路板故障檢測儀 型號：ICT-4040UXP-II 

產(chǎn)品特點(diǎn)：
◆好的測試技術(shù)，好的驅動(dòng)能力，故障原因的電路板皆可修好
◆友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)訓練，均可成為維修
◆無(wú)需電路原理圖，不必知道器件型號，對電路板皆可快速維修
◆40/40×2路數字電路測試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規模集成電路數據庫；
◆40/40×2（ASA）V/I，曲線(xiàn)分析測試功能
◆電路板測試存儲功能，被測板可與之比較
◆與進(jìn)口同類(lèi)儀器比較，優(yōu)，操作方便
◆通用于各類(lèi)雙列直插式封裝芯片，可為大中規模集成電路提供分析測試。
◆本功能亦可通過(guò)學(xué)習記錄，比較分析來(lái)測試。

電路板故障檢測儀 型號：ICT-4040UXP-II 

技術(shù)規格：
并口
Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統下工作
雙CPU工作，速度更快，效率更高。
功能測試40×2通道
VI曲線(xiàn)測試40×2通道
雙測試夾VI曲線(xiàn)測試
網(wǎng)絡(luò )提取 程控加電
EPROM/RAM在線(xiàn)讀取
模擬器件 VI曲線(xiàn)測試
總線(xiàn)隔離信號
中文維修筆記
◆[ICT]系列檢測儀檢測更加準確

■ 功能測試軟件設上拉電阻——方便集電極開(kāi)路門(mén)的測試
■ 功能測試外供電源穩定——各種大、中、小型被測電路板皆可測試
■ 功能測試具有三態(tài)識別能力——可測三態(tài)器件和IC負載能力下降故障
■ V/I測試正負掃描電壓——同時(shí)檢查正/反向V/I曲線(xiàn)
■ V/I測試六個(gè)掃描頻率——保證V/I曲線(xiàn)測試穩定
■ V/I測試三種測試電壓幅度——確保各類(lèi)器件的V/I測試

◆集成電路在線(xiàn)功能測試

本功能采用后驅動(dòng)隔離技術(shù)，可在線(xiàn)判定IC邏輯功能是否正確，可測74系列、
4000/45000邏輯IC、75系列接口IC及各種存儲器等千余種集成電路。 1、快速測試：直接
顯示測試結果，迅速確定可疑IC 2、分析測試：顯示全部測試過(guò)程，測試激勵。預期和實(shí)
際響應，幫助分析故障原因 3、器件識別：查找無(wú)標記型號IC或同功能不同型號的IC。

◆集成電路在線(xiàn)狀態(tài)測試

通過(guò)好壞板上相應IC的狀態(tài)進(jìn)行比較，找出有故障的IC。1、狀態(tài)學(xué)習：在線(xiàn)學(xué)習無(wú)故
障IC的引腳關(guān)系，互連狀態(tài)和測試的激勵與響應，并存入數據庫中 2、狀態(tài)比較：同故障
板上相應IC在線(xiàn)進(jìn)行狀態(tài)比較，根據兩者差異判定IC好壞 3、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫
中的各IC的狀態(tài)資料。

◆集成電路離線(xiàn)功能測試

離線(xiàn)測試IC功能好壞，自動(dòng)識別未知型號的芯片

◆V/I曲線(xiàn)測試

通過(guò)好壞板上相應節點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圈的異同判定故障節點(diǎn)及故障IC 1、曲線(xiàn)學(xué)習：在線(xiàn)
學(xué)習*板上各節點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線(xiàn)（V/I曲線(xiàn)），并存入數據庫中 2、曲線(xiàn)比較：同故
障板上相應節點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲進(jìn)行比較，根據差異大小及維修經(jīng)驗判定與此節點(diǎn)相關(guān)的IC
是否損壞 3、曲線(xiàn)顯示：顯示已存入電腦庫中電路板上各個(gè)節點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圖資料大規模
集成電路分析測試
網(wǎng)絡(luò )提取測試

使用戶(hù)方便的測試出元器件之間的連接關(guān)系，；輔助判斷芯片的好壞。實(shí)現網(wǎng)絡(luò )提取采
用了四種模式：
1、探棒對探捧（“棒"—“棒"模式）
2、探捧對測試夾（“棒"—“夾"模式）
3、測試夾對探捧（“夾"—“棒"模式）
4、測試夾對測試夾（“夾"—“夾"模式）

◆開(kāi)發(fā)編譯

TVED為每一塊電路的每一個(gè)子測試都安排了一個(gè)說(shuō)明文件。該說(shuō)明
文件可以通過(guò)任何一個(gè)文本編輯器建立，并按TVED要求轉換后即可
與相應子測試關(guān)聯(lián)起來(lái)，隨時(shí)用熱鍵查看相應說(shuō)明文件。

1、TVED允許兩種建立測試圖形和方法
a）在TVED圖形界面上直接建立
b）讀入DCL語(yǔ)言的編譯結果

2、編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應，不斷對測試圖形加
以調整、修改。

3、4種測試方式：
a）完整執行一個(gè)測試
b）執行一個(gè)測試的一部分
c）循環(huán)執行
d）單步運行

備注信息：
比舊款的4040/8080增加了以下功能：

◆網(wǎng)絡(luò )提取測試

使用戶(hù)方便的測試出元器件之間的連接關(guān)系，；輔助判斷芯片的好壞。實(shí)現網(wǎng)絡(luò )提取采
用了四種模式：
1、探棒對探捧（“棒"—“棒"模式）
2、探捧對測試夾（“棒"—“夾"模式）
3、測試夾對探捧（“夾"—“棒"模式）
4、測試夾對測試夾（“夾"—“夾"模式）

◆開(kāi)發(fā)編譯

TVED為每一塊電路的每一個(gè)子測試都安排了一個(gè)說(shuō)明文件。該說(shuō)明
文件可以通過(guò)任何一個(gè)文本編輯器建立，并按TVED要求轉換后即可
與相應子測試關(guān)聯(lián)起來(lái)，隨時(shí)用熱鍵查看相應說(shuō)明文件。

1、TVED允許兩種建立測試圖形和方法
a）在TVED圖形界面上直接建立
b）讀入DCL語(yǔ)言的編譯結果

2、編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應，不斷對測試圖形加
以調整、修改。

3、4種測試方式：
a）完整執行一個(gè)測試
b）執行一個(gè)測試的一部分
c）循環(huán)執行
d）單步運行

◆操作系統的兼容性增強