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高頻光電導少數載流子壽命測試儀S810-LT-1B

高頻光電導少數載流子壽命測試儀S810-LT-1B

簡(jiǎn)要描述:
高頻光電導少數載流子壽命測試儀S810-LT-1B
技術(shù)參數
(1)電阻率測量范圍ρ≥3Ω·cm,壽命測試范圍:5~10000μs
(2)光脈沖發(fā)生裝置
重復頻率>25次/s 脈寬≥60μs 光脈沖關(guān)斷時(shí)間<1μs。

產(chǎn)品時(shí)間:2020-07-29

訪(fǎng)問(wèn)量:1010

廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家

生產(chǎn)地址:

高頻光電導少數載流子壽命測試儀S810-LT-1B  

高頻光電導少數載流子壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準(F28-75)及標準GB/T1553-1997設計制造。本設備采用高頻光電導衰減測量方法,適用于硅、鍺單晶的少數載流子壽命測量,硅單晶壽命測量ρ≥3Ω·cm,由于對樣塊體形無(wú)嚴格要求,因此廣泛應用于工廠(chǎng)的常規測量。壽命測量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及缺陷存在的情況,是單晶質(zhì)量的重要檢測項目。
高頻光電導少數載流子壽命測試儀S810-LT-1B  
技術(shù)參數
(1)電阻率測量范圍ρ≥3Ω·cm,壽命測試范圍:5~10000μs
(2)光脈沖發(fā)生裝置
重復頻率>25次/s 脈寬≥60μs 光脈沖關(guān)斷時(shí)間<1μs
紅外光源波長(cháng):1.06μm(測量硅單晶),如測量鍺單晶壽命需另行配置適當波長(cháng)的光源。
脈沖電源:5A~12A
(3)高頻源
頻率:30MHz 低輸出阻抗 輸出功率>1W
(4) 放大器和檢波器
頻率響應:2Hz~3MHz
壽命測試范圍:5~10000μs
按測量標準對儀器設備的要求,本儀器設備配有:
(5)讀數方式:可選配載流子壽命測試軟件系統或數字示波器讀數,軟件系統測試操作簡(jiǎn)單,點(diǎn)擊“測量”即可,自動(dòng)保存數據及相應測試點(diǎn)衰減波形到數據庫,可進(jìn)行查詢(xún)歷史數據和導出歷史數據等操作。

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